Ultramicroscopy SCIE

國際簡稱：ULTRAMICROSCOPY 參考譯名：超顯微鏡

主要研究方向：工程技術(shù)-顯微鏡技術(shù) 非預(yù)警期刊審稿周期：約3.0個月約17.8周

《超顯微鏡》(Ultramicroscopy)是一本由Elsevier出版的以工程技術(shù)-顯微鏡技術(shù)為研究特色的國際期刊，發(fā)表該領(lǐng)域相關(guān)的原創(chuàng)研究文章、評論文章和綜述文章，及時報道該領(lǐng)域相關(guān)理論、實踐和應(yīng)用學(xué)科的最新發(fā)現(xiàn)，旨在促進該學(xué)科領(lǐng)域科學(xué)信息的快速交流。該期刊是一本未開放期刊，近三年沒有被列入預(yù)警名單。

3區(qū) 中科院分區(qū)
Q2 JCR分區(qū)
143 年發(fā)文量
2.1 IF影響因子
未開放 是否OA
109 H-index
1975 創(chuàng)刊年份
Monthly 出版周期
English 出版語言

Ultramicroscopy is an established journal that provides a forum for the publication of original research papers, invited reviews and rapid communications. The scope of Ultramicroscopy is to describe advances in instrumentation, methods and theory related to all modes of microscopical imaging, diffraction and spectroscopy in the life and physical sciences.

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Ultramicroscopy期刊信息

ISSN：0304-3991
出版語言：English
是否OA：未開放
E-ISSN：1879-2723
出版地區(qū)：NETHERLANDS
是否預(yù)警：否
出版商：Elsevier
出版周期：Monthly
創(chuàng)刊時間：1975
開源占比：0.2476
Gold OA文章占比：44.42%
OA被引用占比：0.1093...
出版國人文章占比：0.1
出版撤稿占比：0
研究類文章占比：100.00%

Ultramicroscopy CiteScore評價數(shù)據(jù)（2024年最新版）

CiteScore

SJR

SNIP

CiteScore 指數(shù)

4.6

0.78

0.802

學(xué)科類別	分區(qū)	排名	百分位
大類：Physics and Astronomy 小類：Instrumentation	Q2	49 / 141	65%
大類：Physics and Astronomy 小類：Atomic and Molecular Physics, and Optics	Q2	85 / 224	62%
大類：Physics and Astronomy 小類：Electronic, Optical and Magnetic Materials	Q2	113 / 284	60%

名詞解釋：CiteScore 是衡量期刊所發(fā)表文獻的平均受引用次數(shù)，是在 Scopus 中衡量期刊影響力的另一個指標(biāo)。當(dāng)年CiteScore 的計算依據(jù)是期刊最近4年（含計算年度）的被引次數(shù)除以該期刊近四年發(fā)表的文獻數(shù)。例如，2022年的 CiteScore 計算方法為：2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的對2019-2022年發(fā)表的文件的引用數(shù)量÷2019-2022年發(fā)布的文獻數(shù)量注：文獻類型包括：文章、評論、會議論文、書籍章節(jié)和數(shù)據(jù)論文。

Ultramicroscopy中科院評價數(shù)據(jù)

中科院 2023年12月升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學(xué)科		小類學(xué)科
否	否	工程技術(shù)	3區(qū)	MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù)	2區(qū)

中科院 2022年12月升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學(xué)科		小類學(xué)科
否	否	工程技術(shù)	3區(qū)	MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù)	1區(qū)

中科院 2021年12月舊的升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學(xué)科		小類學(xué)科
是	否	工程技術(shù)	3區(qū)	MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù)	1區(qū)

中科院 2021年12月基礎(chǔ)版

Top期刊	綜述期刊	大類學(xué)科		小類學(xué)科
否	否	工程技術(shù)	3區(qū)	MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù)	3區(qū)

中科院 2021年12月升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學(xué)科		小類學(xué)科
是	否	工程技術(shù)	3區(qū)	MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù)	1區(qū)

中科院 2020年12月舊的升級版

Top期刊	綜述期刊	大類學(xué)科		小類學(xué)科
是	否	工程技術(shù)	3區(qū)	MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù)	1區(qū)

Ultramicroscopy JCR評價數(shù)據(jù)（2023-2024年最新版）

按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)	收錄子集	分區(qū)	排名	百分位
學(xué)科：MICROSCOPY	SCIE	Q2	3 / 8	68.8%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)	收錄子集	分區(qū)	排名	百分位
學(xué)科：MICROSCOPY	SCIE	Q1	2 / 8	81.25%

Ultramicroscopy歷年數(shù)據(jù)統(tǒng)計

影響因子

中科院分區(qū)

Ultramicroscopy中國學(xué)者發(fā)文選摘

1、Atomically resolved low-temperature scanning tunneling microscope operating in a 22 T water-cooled magnet
Author: Jihao, Wang; Li, Weixuan; Zheng, Shaofeng; Zhao, Kesen; Hou, Yubin; Zhang, Jing; Feng, Qiyuan; Xia, Zhigang; Lu, Yalin; Meng, Wenjie; Lu, Qingyou

Journal: ULTRAMICROSCOPY. 2023; Vol. 245, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.ultramic.2022.113668
2、Optimizing experimental parameters of integrated differential phase contrast (iDPC) for atomic resolution imaging
Author: Liang, Zhiyao; Song, Dongsheng; Ge, Binghui

Journal: ULTRAMICROSCOPY. 2023; Vol. 246, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113686
3、Measurement of the pattern shifts for HR-EBSD with larger lattice rotations
Author: Li, Wei; Wang, Yongzhe; Zhou, Xingui; Zhang, Ruyue; Zeng, Yi; Miao, Hong

Journal: ULTRAMICROSCOPY. 2023; Vol. 247, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113697
4、High-speed multiparametric imaging through off-resonance tapping AFM with active probe
Author: Li, Peng; Shao, Yongjian; Xu, Ke; Liu, Xiucheng

Journal: ULTRAMICROSCOPY. 2023; Vol. 248, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113712
5、A novel method of high-throughput micro-and nanomechanical sample fabrication
Author: Cao, L.; Zhu, Y.; Wang, X.

Journal: ULTRAMICROSCOPY. 2023; Vol. 248, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113714
6、An integrated constrained gradient descent (iCGD) protocol to correct scan-positional errors for electron ptychography with high accuracy and precision
Author: Ning, Shoucong; Xu, Wenhui; Loh, Leyi; Lu, Zhen; Bosman, Michel; Zhang, Fucai; He, Qian

Journal: ULTRAMICROSCOPY. 2023; Vol. 248, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113716
7、Dynamic evolution mechanism of scanning moir?e fringes
Author: Liu, Yangrui; Nan, Pengfei; Lin, Yangjian; Liang, Zhiyao; Song, Dongsheng; Wang, Yumei; Ge, Binghui

Journal: ULTRAMICROSCOPY. 2023; Vol. 249, Issue , pp. -. DOI: 10.1016/j.ultramic.2023.113731
8、M?llenstedt Biprism based Shearing Ptychographic Iterative Engine Method
Author: Zhilong Jiang, Yuanjie Li, Yan Kong, Lei Meng, Shouyu Wang, Cheng Liu

Journal: ULTRAMICROSCOPY, 2019, Vol., , DOI:10.1016/j.ultramic.2019.02.021